Àü³²´ë, ¼¼°è ÃÖÃÊ AI ±â¹Ý DRAM ÄÚ¾î ȸ·Î ¼³°è ÀÚµ¿È­ ±â¼ú °³¹ß

Àü¶ó³²µµ
Àü³²´ë, ¼¼°è ÃÖÃÊ AI ±â¹Ý DRAM ÄÚ¾î ȸ·Î ¼³°è ÀÚµ¿È­ ±â¼ú °³¹ß
Áö´ÉÀüÀÚÄÄÇ»ÅͰøÇаú ÀÌÇý¸° ¼®»ç°úÁ¤»ý, Â÷¼¼´ë ¸Þ¸ð¸® ¼³°è ÆÐ·¯´ÙÀÓ Á¦½Ã
  • ÀÔ·Â : 2025. 09.07(ÀÏ) 19:04
  • ÃÖâ´ö ±âÀÚ
Áö´ÉÀüÀÚÄÄÇ»ÅͰøÇаú ÀÌÇý¸° ¼®»ç°úÁ¤»ý
Àü³²´ëÇб³(ÃÑÀå À̱ٹè) Áö´ÉÀüÀÚÄÄÇ»ÅͰøÇаú ¿¬±¸ÆÀÀÌ ¼¼°è ÃÖÃÊ·Î ÀΰøÁö´É(AI) ±â¹Ý Åë°èÀû ÃÖÀûÈ­ ±â¹ýÀ» Àû¿ëÇÑ DRAM ÄÚ¾î ȸ·Î ÀÚµ¿È­ ¼³°è Ç÷οì¿öÅ©¸¦ Á¦¾ÈÇØ Çаè¿Í »ê¾÷°èÀÇ ÁÖ¸ñÀ» ¹Þ°í ÀÖ´Ù.

À̹ø ¿¬±¸¿¡´Â Àü³²´ë Áö´ÉÀüÀÚÄÄÇ»ÅͰøÇаú ¼®»ç°úÁ¤ ÀÌÇý¸° Çлý(Á¦1ÀúÀÚ, Áöµµ±³¼ö À̸íÁø)ÀÌ Âü¿©Çß´Ù.

¿¬±¸ÆÀÀº ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ ¹Ì¼¼È­·Î ÀÎÇØ DRAM ¼¾½º ¾ÚÇÁ(sense amplifier)¿¡¼­ ¹ß»ýÇÏ´Â ÀÓ°èÀü¾Ð ºÒÀÏÄ¡¿Í ¿ÀÇÁ¼Â ¹®Á¦¸¦ AI ¾Ë°í¸®ÁòÀ» ÅëÇØ ÇØ°áÇÏ´Â »õ·Î¿î ¼³°è Á¢±Ù¹ýÀ» Á¦½ÃÇß´Ù. ƯÈ÷ ´Ü°èÀû ¸ðµ¨¸µÀ» ±â¹ÝÀ¸·Î ÇÑ 3-Stage UQ(Uncertainty Quantification) ¾Ë°í¸®ÁòÀ» °³¹ßÇØ, ±âÁ¸ ¸óÅ×Ä«¸¦·Î(Monte Carlo) ¹æ½Ä ´ëºñ ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç ½Ã°£À» ¼öõ ¹è ÀÌ»ó ´ÜÃàÇϸ鼭µµ ³ôÀº ¿¹Ãø Á¤È®µµ¸¦ À¯ÁöÇÏ´Â ¼º°ú¸¦ ÀÔÁõÇß´Ù.

ÀÌ ¿¬±¸´Â ´Ü¼øÇÑ È¸·Î ¼º´É Çâ»óÀ» ³Ñ¾î, Á¦Á¶ °øÁ¤ º¯µ¿¼ºÀ» ¹Ý¿µÇÑ DRAM ÄÚ¾î ȸ·Î ¼³°è ÀÚµ¿È­ÀÇ ½Å·Ú¼º È®º¸¶ó´Â »õ·Î¿î ÆÐ·¯´ÙÀÓÀ» ¿­¾ú´Ù´Â Á¡¿¡¼­ ÀÇÀǰ¡ Å©´Ù. ¶ÇÇÑ Â÷¼¼´ë ¸Þ¸ð¸® ¼³°è Àü¹Ý¿¡ Àû¿ë °¡´ÉÇÑ º¸ÆíÀû ¼³°è ÀÚµ¿È­ ¹æ¹ý·ÐÀ¸·Î È®ÀåµÉ ¼ö ÀÖ¾î, ¸Þ¸ð¸® ¹ÝµµÃ¼ »ê¾÷ °æÀï·Â Á¦°í¿¡ ±â¿©ÇÒ °ÍÀ¸·Î ±â´ëµÈ´Ù.

À̸íÁø ±³¼ö´Â ¡°À̹ø ¼º°ú´Â AI°¡ ¹ÝµµÃ¼ ȸ·Î ¼³°è ÀÚµ¿È­ÀÇ Á᫐ ÃàÀ¸·Î ÀÚ¸® ÀâÀ» ¼ö ÀÖÀ½À» º¸¿©ÁØ »ç·Ê¡±¶ó¸ç, ¡°DRAM ÄÚ¾î ȸ·Î ¼³°è ÃÖÀûÈ­ÀÇ »õ·Î¿î ÀÌÁ¤Ç¥°¡ µÉ °Í¡±À̶ó°í °­Á¶Çß´Ù. ¾Æ¿ï·¯ À̹ø ³í¹®Àº À̸íÁø ±³¼ö°¡ â¾÷ÇÑ ¹ÝµµÃ¼ ¼³°è ÀÚµ¿È­ Ç÷§Æû °³¹ß ±â¾÷ ¾Ú¾ÆÀ̼À(ÁÖ)ÀÇ ÇÙ½É ±â¼ú·Î¼­µµ Ȱ¿ëµÉ ¿¹Á¤ÀÌ´Ù.

À̹ø ¿¬±¸´Â °úÇбâ¼úÁ¤º¸Åë½ÅºÎ¡¤Á¤º¸Åë½Å±âȹÆò°¡¿ø(IITP)ÀÇ ¡®ÇС¤¼®»ç¿¬°è ICT ÇÙ½ÉÀÎÀç¾ç¼º»ç¾÷¡¯, Àü³²´ëÇб³ ¡®Áö¿ªÇõ½ÅÁ᫐ ´ëÇÐÁö¿øÃ¼°è(RISE) »ç¾÷¡¯, ±³À°ºÎÀÇ ¡®±Û·ÎÄ÷¦ »ç¾÷¡¯ÀÇ Áö¿øÀ¸·Î ¼öÇàµÆ´Ù.

ÇÑÆí, º» ¿¬±¸ ¼º°ú´Â ¼¼°èÀû ±ÇÀ§ ÇмúÁö IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 2025³â 10¿ùÈ£¿¡ °ÔÀçµÉ ¿¹Á¤ÀÌ´Ù.

*³í¹®Á¦¸ñ: H. Lee et al., "Machine Learning-based Uncertainty Quantification and Design Optimization for offset compensation Sense Amplifiers in DRAMs," in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, doi: 10.1109/TCAD.2025.3603112.
ÃÖâ´ö ±âÀÚ
Àü¶ó³²µµ ÁÖ¿ä´º½º